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○共有10个《激光气体分析仪》共1页第1页

《激光气体分析仪》分类：

横河（Yokogawa）TDLS200激光分析仪产品样本（中文）

TDLS200采用独特的峰面积积分法且具备可调谐二极管，无需采样装置，根据气体近红外吸收理论，可以在高温高压等恶劣工艺环境下实现快速、精确的测量，还可以在腐蚀性、刺激性及高粉尘浓度等恶劣条件下进行测量气体浓度。

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分类：产品选型

横河（Yokogawa）TDLS200激光分析仪技术资料（中文）

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分类：产品选型

横河（Yokogawa）TDLS200可调谐二极管激光分析仪技术规格

    TDLS200新型TruePeak波长可变半导体激光分析仪是一款坚固耐用的过程分析仪，根据气体近红外吸收理论，可以在高温高压等恶劣工艺环境下实现快速、精确的测量，还可以在腐蚀性、刺激性及高粉尘浓度等恶劣条件下进行测量。
    TruePeak波长可变半导体激光分析仪TDLS200适用于现场分析，尤其是压力或温度变化的测量环境。最大工艺压力为20bar绝对压力，最大工艺温度为1500℃，响应速度快(2~20秒)，而且在多数应用中均具有抗干扰特性。
    在高达1500℃的工艺温度下，可测量一氧化碳(CO)，浓度范围低至ppm级检测限制、高至百分比级；以及二氧化碳(CO2)。该分析仪还可以在含氯和碳氢化合物等具有腐蚀性、刺激性的工艺气体流路中，进行ppm级别的水分测量。
    当激光通过待测气体时，TruePeak分析仪通过测量吸收的激光量分析气体浓度。传感器不接触工艺气体，而且没有可动部件，所以平均故障间隔时间更高，维护成本更低。
    配备多种灵活的安装可选项，而且具有在线诊断的性能。采用波长可变半导体激光作为单色光源具有以下优点: 灵敏度高；选择性强，可分离单独的吸收线；以及在高粉尘浓度的环境中也可进行光学测量的能力。
    这款新型过程分析仪坚固耐用。不仅适用于高温高压的测量环境，还可以在腐蚀性、刺激性及高粉尘浓度等恶劣条件下进行测量。
    TruePeak波长可变半导体激光分析仪TDLS200是体型小巧的独立机型，4´20的真空荧光显示器可滚动查看信息，或使用带键盘的7英寸彩色显示器。该分析仪还提供各种接口，如以太网、USB通信接口，安全或者危险区域均可使用。
    TruePeak波长可变半导体激光分析仪TDLS200具有3个可配置4-20mA输出，2个用于温度和压力补偿的4-20mA输入，以及继电器输出，包括报警/故障继电器，和用于验证或流路切换的3阀驱动。
    新型TruePeak波长可变半导体激光分析仪TDLS200能够进行精确的在线工艺测量，由于在燃烧控制中可以通过精确连续的测量过量氧气及一氧化碳优化燃烧工艺，因此是这种应用的理想选择。
    而且，对一氧化碳进行低至ppm级别的连续精确的测量，可以精确并连续优化空燃比。
    TruePeak波长可变半导体激光分析仪TDLS200还可用于监视CO、CH4和水分，确认燃烧器熄火以及工艺管泄漏；测量火炬管线、烷基化装置和天然气装置的氧气；在流化催化裂化装置中，为了安全性和催化剂再生对CO和O2进行监视；在催化重整工艺中，检测碳氢化合物中低至ppm级别的水分。

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横河（Yokogawa）TDLS200波长可变半导体激光分析仪使用说明书

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横河（Yokogawa）TDLS激光分析仪常见问题解答(FAQ)

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横河（Yokogawa）TDLS200波长可变半导体激光分析仪一氧化碳（CO）测量解决方案

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横河（Yokogawa）TDLS220波长可变半导体激光分析仪产品样本

    TruePeak波长可变半导体激光分析仪TDLS220的专有设计，用于测量工艺气体流路中O2的体积比(vol%)，准确、可靠而且低维护。
    TruePeak波长可变半导体激光分析仪TDLS220可以在多种工艺应用中测量O2，工艺温度高达120℃，工艺压力高达100psi，腐蚀性和刺激性的工艺条件下也不受影响。
    TruePeak波长可变半导体激光分析仪TDLS220是最坚固耐用的氧分析仪之一。
    5秒钟的快速测量，不受干扰，测量精度较之其他氧分析仪更高。
    TruePeak波长可变半导体激光分析仪TDLS220的测量基于吸收理论，自成TDLS系统，当激光通过待测气体时，根据测量吸收的激光量分析气体浓度。
    波长可变半导体激光分析仪的构造非常简单，激光器产生红外光，光学镜片用于聚焦通过待测气体的激光束，然后反射至检测器，检测器和电子设备控制激光器，并将检测信号解析成可以表示气体浓度的信号。

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横河（Yokogawa）TDLS220波长可变半导体激光分析仪技术规格

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横河（Yokogawa）TDLS500波长可变半导体激光分析仪产品样本

    TDLS500(ICOS)分析仪，在恶劣的条件下也可以快速连续的测量。通常，工艺条件下的痕量级分析需要采用过程气相色谱技术。这种方法的缺点就是分析时间长，通常以分钟计算，因此无法提供连续测量。
    离轴积分腔输出光谱技术采用高精细度光学腔作为吸收池。传统的多程排列的光通道长度通常局限在200m以内，与此不同的是，离轴积分腔输出光谱技术吸收池可以高效分离激光光子，从而在离开吸收池之前制造出成千上万的光通道。因此，采用高反射率的激光反射镜，光通道有效长度就可以增加至上千万米，而且，通过光学腔的待测光吸收量也大幅提高。比如，一个吸收池带两面反射率达99.99%的反射镜，镜间距率是25cm，则光通道有效长度可达到2500m。
    由于光通道长度取决于光学腔的光学损失，而不是取决于独特的光束轨道(如传统的多程吸收池或腔体响铃系统)，光学校准非常可靠，可以满足现场稳定运行的需求。
    同传统的波长可变吸收光谱技术一样，激光器的波长根据所选待测物的吸收特性进行调节。所测吸收光谱会记录下来，再结合吸收池的待测气温度和压力、光通道有效长度，和已知的谱线强度，确定浓度的定量测量。TruePeak测量方式通过积分求得吸光度面积，而不是仅测量峰值高度或峰值宽度。意味着分析不受干扰。至于响应速度，ICOS分析仪采用了第一原理测量，可以证明测量采用的是实时光谱亦或是历史光谱。

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横河（Yokogawa）TDLS500波长可变半导体激光分析仪技术规格

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