测厚传感器ZLDS102测量圆柱体厚度
客户要求：测量圆柱厚度
测量方案：测厚传感器利用两个激光位移传感器探头对射，同时还有两个辅助量块，通过激光扫描可知X厚度，同时辅助量块厚度Y也知道，通过算法可知圆柱的厚度。测量示意图如下：
由于成本问题给客户
给客户推荐测厚传感器ZLDS10X系列激光位移传感器中的ZLDS102激光位移传感器探头
按照客户的要求给客户推荐以下型号：ZLDS102-250-65-2K-RS232-I-IN-AL-CC-3
量程是250mm,起始距离：65mm,采样频率：2K，数字输出为RS232，模拟输出为电流，线长是3m.
ZLDS102：0.02%高分辨率,0.1%高线性度,低成本。
提供了在计算机上运行附带的传感器软件。该软件提供简单的数据读取、显示以及传感器参数设置功能。
测厚传感器提供了一个传感器开发库(目前仅支持Windows)，以DLL形式提供，封装底层串口通讯协议细节，提供简单易用的编程接口，便于开发人员快速进行应用软件的开发。
应用领域：广泛用于火车轮轮缘轮廓测量，公路车辙、平整度测量。也可用于非接触测量位移、三维尺寸、厚度、物体形变、振动、分拣及玻璃表面测量等。
测厚传感器的主要特点是在测量过程中，不需要测量出材料厚度的绝对尺寸，而只需知道测量厚度的相对值或者相对于一个标准值的厚度。
工作原理：基本原理是光学三角法：半导体激光器①被镜片②聚焦到被测物体⑥。反射光被镜片③收集，投射到CMOS阵列④上；信号处理器⑤通过三角函数计算阵列④上的光点位置得到距物体的距离。
详情请访问：
http://www.51sensors.com/prod_detail_764.html
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