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    孔探检测也称内窥镜检测，其测量技术主要用于对检测中发现的缺陷进行测量，以便判断缺陷是否严重。可用于内窥镜检测的测量技术有多种，本文重点介绍比较常用的两种测量技术：传统双物镜测量和相位扫描三维立体测量技术。
   
    从名称上看不难猜测，传统双物镜测量是使用时间较长的传统技术，而相位扫描三维立体测量技术(以下简称相位扫描测量)则是比较新的、更为先进的测量技术。
   
    两种技术的相同之处：都可以用于在工业内窥镜检测中进行缺陷测量，应用也比较多，而且这两种技术都不需要镜头表面垂直于被检对象的表面（有一些更早的测量技术是由这一要求的，给测量增加了难度）。
   
    这两种测量技术的不同之处，整理如下（相位扫描测量技术是以韦林工业内窥镜为例）：
    1. 原理不同：双物镜测量，其本质原理就是利用模拟人的双眼，对左右镜头获取不同的画面进行视差和位深的计算，从而构建三维图像；相位扫描测量则是通过向被检对象主动投射光栅，并根据相位信息进行三维建模，属于真正意义上的主动三维测量。
    2. 视野不同：双物镜测量镜头为标准视野，焦距范围近焦；相位扫描测量的单物镜3D测量镜头视野广角，焦距范围包含近中远焦。
    3. 模式不同：双物镜测量仅有5种模式，相位扫描测量在这5种的基础上，还增加了3种测量模式，能够应对的缺陷测量需求更多。
    4. 操作复杂程度不同：双物镜测量需要更换镜头，找缺陷用观察镜头，测量用专用双物镜测量镜头；相位扫描测量使用一个镜头既可以查找缺陷也可以测量缺陷，使用起来更便捷。
    5. 对点云图的支持不同：双物镜测量没有点云图，相位扫描测量具有点云图，可旋转多角度观看三维模型，可协助判断打点位置，大幅提高精度。
    6. 测量精度不同：双物镜测量精度一般，相位扫描测量的精度更高。
   
    推荐阅读：【干货】什么是相位扫描三维立体测量?优势及案例分享
   

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